原子力显微镜(Atomic Force Microscope)

型号：美国布鲁克MultiMode8

启用日期：2013-10-17

技术指标：（1）噪音：RMS < 0.3 ? (垂直方向)，横向分辨率0.2nm (XY方向)，可得到稳定的云母及石墨原子像；（2）管状扫描器三个，都可以兼容AFM ，（扫描器XY：10 μm×10 μm，Z：2.5 μm，扫描器XY：40 μm×40 μm，Z：20 μm闭环，扫描器XY：125 μm×125 μm，Z：5 μm）；（3）Thermal Tuning功能，标定探针弹性常数，测试频率优于2MHZ，适应各种弹性常数探针的标定；（4）可8通道同时采集数据1024 x 1024，3通道。

主要附件：Nanoscope控制器、扫描头、扫描管、光学辅助系统、探针夹、探针、抗震平台、计算机。

用途：对金属、半导体、陶瓷、有机物、高分子、生物体等样的表面可在纳米尺度下进行原位观测形貌及力学等物体进行高分辨纳米级形貌成像及力学特性测试。

收费标准：校内300元/小时，校外600元/小时。

仪器管理员：渠晨晨